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光焱科技光伏電池效率損失分析儀

簡要描述:光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽能電池研發(fā)。QE-RX 不僅可以測量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數(shù)據(jù),還可以通過結(jié)合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內(nèi)整合了三種不同的測試功能,并開發(fā)了 SQ-JVFLA 軟件,幫助用戶通過使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。QE-RX 是您

  • 產(chǎn)品型號:QE-RX
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-07-22
  • 訪  問  量: 5792

詳細(xì)介紹

品牌Enlitech價格區(qū)間面議
測量模式交流產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子Lamp?Wavelength?Range300nm~2000nm
Measuring?Wavelength?Range300nm~1200nmJsc?Un-Repeatability<0.1%
Jsc?Uncertainty<0.15%Dark?box800mmx800mmx920mm

提升精度的實驗室利器 _ AM1.5G太陽光模擬器搭光伏太陽能電池效率-損失分析解決方案搭載 SPOT-V 光斑觀測器

光焱科技光伏電池效率損失分析儀


光斑觀測器 為何能助您科研精進(jìn)?

·清晰觀察: 在暗室或光線有限的實驗環(huán)境中,也能清晰觀測光斑,確保樣品處于最佳受光區(qū)域。

·簡便易用: 即插即用,無需繁瑣設(shè)置,適用于各種光譜系統(tǒng),讓您輕松掌握光斑位置。

·多功能應(yīng)用: 無論是微小樣品還是復(fù)雜的光譜實驗,都能提供可靠的觀測支持,幫助您進(jìn)行精準(zhǔn)的實驗設(shè)計和數(shù)據(jù)分析。

·提升效率: 光斑觀測器能有效避免光斑偏移或樣品偏移問題,保障每次測量的準(zhǔn)確性,提升實驗效率,降低誤差。



特色

QE-RX光伏電池效率損失分析儀 的特色如下:


光焱科技光伏電池效率損失分析儀

*高度準(zhǔn)確且低不確定性

QE-RX 的校準(zhǔn)是NIST 可追溯的,這使得 QE-RX 的測試數(shù)據(jù)的不確定性低于任何其他 EQE 測試系統(tǒng)。同時,QE-RX 是由Enlitech 開發(fā)的,Enlitech 擁有 10 年的ISO / IEC 17025 認(rèn)證的校準(zhǔn)實驗室。這使得 QE-RX 對 Si 太陽能電池的測試結(jié)果高度準(zhǔn)確。依靠 QE-RX,它將為您提供可靠的結(jié)果。

光焱科技光伏電池效率損失分析儀

*結(jié)構(gòu)緊湊但功能多樣

QE-RX 將所有光學(xué)和機(jī)械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主體內(nèi),其中包括電信號采集鎖相放大器。不限于其緊湊的尺寸,QE-RX 仍然提供各種測試數(shù)據(jù),包括太陽能電池的 EQE、光譜響應(yīng)、反射率和 IQE。緊湊而多功能是 QE-RX 的優(yōu)勢。

光焱科技光伏電池效率損失分析儀

*功率損耗分析

QE-RX 結(jié)合 SQ-JVFL 軟件,可以提供最完整的分析功能,包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和帶隙計算。這些參數(shù)是生產(chǎn)產(chǎn)量控制和效率建議的關(guān)鍵因素,這使得 QE-RX 成為光伏行業(yè)的最佳合作伙伴。


.用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接觸、雙面和 TOP-Con 硅太陽能電池

.提供 QE(量子效率)、PV-EQE(外部量子效率)、IPCE(入射光子-電子轉(zhuǎn)換效率)、SR(光譜響應(yīng))、IQE(內(nèi)部量子效率)和反射率方面的數(shù)據(jù)。

.結(jié)構(gòu)緊湊且重復(fù)性高超過 99.5%。

.波長范圍:300~1200 nm

.Jsc損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。

.職業(yè)損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。

.FF損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。

.提供的EQE不確定度評估報告和經(jīng)ISO/IEC 17025認(rèn)證的質(zhì)量控制,可用于期刊論文投稿。

.多樣化和定制化的樣品測試裝置。


系統(tǒng)設(shè)計

光焱科技光伏電池效率損失分析儀

規(guī)格

QE-RX主機(jī)功能

?   測量波長范圍:300-1200nm (可擴(kuò)展)

?   各波長測量重復(fù)性:300-390nm 平均不重復(fù)性≦ 0.3%400-1000 nm 平均不重復(fù)性 0.15%。1000-1200nm波長平均不重復(fù)性 0.25%

?   短路電流密度不重復(fù)性 0.1%

?   準(zhǔn)確性<0.1%  

?   量測10次計算平均不重復(fù)性 = 相對標(biāo)準(zhǔn)差/平均值* 100%

?   測量時間:300-1200nm,掃描間隔10nm,測量不超過3分鐘

?   測量暗箱:80cm測量遮罩暗室

?   適用環(huán)境: 溫度15~35度,濕度20%~65%

?   具備短路電流、開路電壓、填充因素三大損耗分析

軟件功能

?  絕對光強(qiáng)校正

?  光譜響應(yīng)測量

?  外部量子效率測量(EQE

?  帶寬能隙分析(Bandgap

?  自動、即時短路電流密度Jsc計算

?  單波長短路電流自動計算

?  獨立控制操作整體硬件系統(tǒng)及資料讀取

?  光譜失配因素計算(MMF

?  信號監(jiān)控功能

?  任意AM光譜短路電流密度計算功能

?  資料保存格式txt |

應(yīng)用范圍

QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于:

*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太陽能電池效率-損失分析

*IEC-60904-8 光譜響應(yīng)測量

*IEC-60904-7 失配系數(shù)計算

*IEC-60904-1 MMF 校正

*矽太陽能電池加工質(zhì)量控制

*矽太陽能電池帶隙測定







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